1. Besuch von SKF: Prof. Dr. Stephan Sommer begrüßt die SKF-Mitarbeitenden Larissa Pataky, Andreas Denninger und Mandy Brückner an der THWS. Foto: THWS/Anne Speda.

SKF-Mikroskop bekommt neues Zuhause an der THWS

Von der Industrie in den Hörsaal: Ein ehemaliges Rasterelektronenmikroskop der Schweinfurter Firma SKF wird jetzt an der Technischen Hochschule Würzburg-Schweinfurt für die Ausbildung und Werkstoffanalyse eingesetzt.

Schweinfurt. Ein hochwertiges Analysegerät aus der Industrie hat an der Technischen Hochschule Würzburg-Schweinfurt (THWS) eine neue Aufgabe gefunden. Ein Rasterelektronenmikroskop (REM), das zuvor bei der Firma SKF GmbH in Schweinfurt eingesetzt wurde, steht nun der Fakultät Maschinenbau zur Verfügung.

Nachdem SKF das bisherige Gerät durch ein neues Mikroskop ersetzt hatte, konnte es durch das Engagement von Laboringenieur Daniel Wagenhäuser an der Hochschule weiterverwendet werden.

Zur gemeinsamen Einweihung besuchten die SKF-Laborleiterin Larissa Pataky sowie die Labormitarbeitenden Mandy Brückner und Andreas Denninger die THWS. Dort wurden sie von Prof. Dr. Stephan Sommer und Prof. Dr. Jörg Spielfeld begrüßt.

Praxisnahe Ausbildung für Studierende

Für die Hochschule ist das Mikroskop eine wertvolle Ergänzung der technischen Ausstattung. Studierende können damit Werkstoffe untersuchen und Erfahrungen mit modernen Analyseverfahren sammeln.

„Durch die Nutzung des Mikroskops können unsere Studierenden praxisnahe Erfahrungen sammeln und direkt lernen, wie moderne Analysetechniken zur Lösung technischer Fragestellungen eingesetzt werden“, erklärt Prof. Dr. Stephan Sommer.

Auch Prof. Dr. Jörg Spielfeld sieht in der Zusammenarbeit einen großen Vorteil. Die Verbindung zwischen industrieller Praxis und Hochschullehre bereichere die Ausbildung um wichtige praktische Erfahrungen.

Ein Blick in die kleinsten Oberflächenstrukturen

Ein Rasterelektronenmikroskop ermöglicht die hochauflösende Untersuchung von Oberflächen. An der THWS wird es insbesondere zur Analyse metallischer Werkstoffe und anderer leitfähiger Proben eingesetzt.

Anders als ein herkömmliches Lichtmikroskop arbeitet das Gerät mit einem Elektronenstrahl. Dadurch können feinste Oberflächenstrukturen mit hoher Schärfentiefe dargestellt werden.

Nach Angaben der Hochschule sind mit dem Gerät Vergrößerungen bis zum 10.000-Fachen möglich.

Besonders hilfreich ist diese Technik beispielsweise bei der Untersuchung von Bruchflächen. So lässt sich analysieren, welche Veränderungen oder Schäden an einem Werkstoff aufgetreten sind.

Zusammenarbeit zwischen Hochschule und Industrie

Mit der Weitergabe des Mikroskops erhält ein technisch anspruchsvolles Gerät eine neue Verwendung.

Gleichzeitig profitieren die Studierenden von einer Ausstattung, die zuvor unmittelbar in der industriellen Praxis eingesetzt wurde.

Die Zusammenarbeit zwischen SKF und der THWS zeigt damit, wie Unternehmen und Hochschulen gemeinsam zur praxisorientierten Ausbildung des technischen Nachwuchses beitragen können.

Quelle: Technische Hochschule Würzburg-Schweinfurt (THWS)

Bildunterschriften

Die Pressemitteilung enthält drei Bildbeschreibungen. Du kannst je nach verwendetem Foto diese Bildunterschriften übernehmen:

1. Besuch von SKF: Prof. Dr. Stephan Sommer begrüßt die SKF-Mitarbeitenden Larissa Pataky, Andreas Denninger und Mandy Brückner an der THWS. Foto: THWS/Anne Speda.

   
   
   

2. Austausch im Labor: Prof. Dr. Stephan Sommer im Gespräch mit Mandy Brückner, Laborleiterin Larissa Pataky und Andreas Denninger von SKF. Foto: THWS/Anne Speda.

   
   
   

3. Das Mikroskop: Prof. Dr. Jörg Spielfeld erläutert die Funktionsweise des Rasterelektronenmikroskops. Foto: THWS/Anne Speda.